X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）
關(guān)鍵詞：X-4顯微熔點(diǎn)儀,數(shù)顯顯微熔點(diǎn)儀
所屬分類：其他類測(cè)試儀器
產(chǎn)品概述：X-4 顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
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X-4 顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
主要技術(shù)參數(shù)
| 熔點(diǎn)測(cè)量范圍 | 室溫至320℃ |
| 測(cè)量重復(fù)性 | ±1℃（在≤200℃時(shí)）±2℃（在200～300℃時(shí)） |
| 光學(xué)放大倍數(shù) | 目鏡10X；物境4X |
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X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）
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